Scanning Electron Microscope (SEM)

Scanning Electron Microscope (SEM)

Laboratorium SEM, Departemen Teknik Mesin ITS menerima karakterisasi sampel dengan menggunakan alat HITACHI FLEXSEM 100 yang dilengkapi dengan EDS ( Energy Dispersive X РRay Spectroscopy ) untuk analisa unsur. HITACHI FLEXSEM 100 merupakan generasi terbaru dengan Ultra Variable Pressure Detector yang lebih mumpuni dalam analisa material baik non konduktif maupun konduktif.

Karakterisasi sampel dengan menggunakan alat SEM bertujuan untuk melihat morfologi dan topografi dari sampel. EDS merupakan suatu alat yang digunkana mengetahui unsur yang terkandung pada sampel. EDS dapat dilakukan pada daerah yang kecil (titik), garis dan kotak. Selain itu EDS dapat digunakan untuk mengetahui sebaran unsur (mapping) pada sampel.

Informasi lebih lanjut